TOP MINI便携式X射线衍射仪

便携性

无需样品制备工艺，可直接对矿物进行测量，同时也具有体积小、重量轻等特点，可以随时随地进行现场分析，便于现场快速决策。

自研分析软件

配套自主知识产权XRD数据分析软件包，可以完成物相鉴定及定量分析工作，可直接导入JADE。

快速在线分析

较高的信噪比，提高采样效率，数据采集时间15~20 分钟。(半导体样品小于 5 分钟)

先进的光路系统设计，物相定量分析达到台式机的水平，检出限大于 3wt.%，相对误差优于 10%

光源的穿透性高

Mo靶光源，能量更高，无需换靶即可完成绝大部分晶体测试，且可提高样品的装填厚度。

1、技术参数  技术参数

X光管靶材 Mo靶 额定功率 50 w (50kV, 1.0mA) 探测器 HPC二维探测器 探测器像素 1280*256 2θ 2.5~27.5° 角分辨率 0.25°(FWHM) 样品量 约15mg 样品颗粒 <120μm 样品采集时间 600-1200s 外形尺寸 58cm×42cm×23cm（L*W*H） 净重 20.0kg 工作环境挑战 15~35℃ 散热方式 自动控温风冷装置

3、技术优势

（1）靶材选用Mo靶（17.4keV），传统的Cu靶(8.04keV)、Co靶(6.9keV)能量较 低，只适用于反射光路，对样品架厚度及样品装填有较高要求，且当样品中含 有Fe时，Cu靶会产生荧光效应，使结果失真。而TOPMINI采用透射光路，并配 备了0.3mm、0.5mm、0.8mm、2mm的不同厚度样品架，且适用于所有常规粉末 样品。

（2）准直管中加入了聚光镜技术，将信号光强提升了5~6倍，正常工作的20W 即约相当于100W，并且提高了信噪比，使输出谱图更加准确。

（3）数据采集时间仅需10~20分钟（半导体材料仅需5分钟），具体采集时间可 根据需求自由调整。

（4）物相定量分析结果达到台式机的水平，检出限大于 3 wt.%，相对误差 优于10%。 （5）本产品数据采集范围2.5~27.5°，可换算为Cu靶的5.5~62.2°，优于现在主流 的5~55°。本产品可根据客户需求选择加装XRF功能或额外加载第二个XRD探测 器，若加载第二个XRD探测器，数据采集范围可与大型XRD相当，能完成结构 精修要求。

（6）采用HPC二维探测器，探头与控制器分离设计，两者总重只有380克，且 两者价格基本一致。一般情况下，探测器发生损坏时，很少是两者同时损坏，因此HPC探测器损坏维修时所需费用要远远低于CCD探测器。

（7）强大的数据分析软件包，配套了ICDD和COD两套数据库，可根据客户习 惯自行选用，同时专门设计了常用矿物数据库，以便一键得出录井现场样品层 段基本物相情况，可同时适用于实验室与录井现场的工作条件。同时，本产品 数据皆为最为通用的格式，客户可根据自己的要求选用习惯的分析软件。

（8）整机手提箱大小，无任何运动部件，无需定期标定，结构牢固可靠，可适 应条件温度内的任何工作环境

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